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日本日置C测试仪 3504-40/50/60
型号:
品牌:日本日置HIOKI
库存:0
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日本日置C测试仪 3504-40/50/60产品详细信息
日本日置C测试仪 3504-40/50/60概述

封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等

■ BIN功能

C测量根据测量值樶多分类为14个等级※1,易于进行分拣等。 ※1 3506,3505樶多为13个等级。3504-40无BIN功能。

■ 比较器功能

第1参数(C)、第2参数(D)可各自设置上下限值。判定结果可进行蜂鸣、LED显示以及外部输出,设定值始终显示。

■ 存储功能

测量数据可保存在主机。可通过GP-IB,RS-232C读出。 3506-10 ………………………………..1,000个 3504-60, 3504-50, 3504-40 ……32,000个

■ 只需选择的简单操作&LED显示

只需从面板标记项目中进行选择,操作简单。设定好的测量条件会点亮,能够一目了然把握设定条件。

■ 触发同步输出功能

施加触发后输出测量信号,仅在测量时将信号施加到被测物上。因为是在接触被测物时流过大电流,因此能够减少接点的损耗。

■可存储99※2组测量条件

樶多可保存99组测量条件,可迅速对应在重复测量较多的产线上切换被测物的情况。可利用EXT I/O读出任意测量条件。 ※2 3506-10樶多为70组。

■标配接触检查功能

可检测出测量过程中的接触错误。可另外管理有过接触错误的样品,对提高成品率做出贡献。

日本日置C测试仪 3504-40/50/60特点

★ 高速测量2ms
★ 能根据C 和D (损耗系数*2)的测量值,进行被测物合格与否的判断
★ 对应测试线,比较器功能/触发输出功能
★ 3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试
★ 3504-40记录工具,实现高速/低成本的测试
★ 查出全机测量中的接触错误,提高成品率

日本日置C测试仪 3504-40/50/60选型指南

测量参数 Cs,Cp(电容),D(损耗系数tanδ)
测量范围 C:0.9400pF~20.0000mF D:0.00001~1.99000
基本精度 (代表值)C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016 ※测定精度= 基本精度× B× C× D× E, B~E为各系数
测量频率 120Hz, 1kHz
测量信号电平 恒压模式: 100mV (只用于3504-60), 500 mV, 1 V 测量范围: CV 100mV:~ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ~ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz) CV 500mV: ~ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ~ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz) CV 1V: ~ 70μF 量程 (测量频率 1kHz), ~ 700μF 量程 (测量频率 120Hz)
输出电阻 (CV测量范围以外的开路端子电压模式时)
显示 发光二级管 (6位表示,满量程计算器根据量程而定)
测量时间 典型值: 2.0 ms ( 1 kHz, FAST) ※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同
功能 BIN分类测量 (3504-40除外), 触发同步输出, 测量条件记忆, 测量值的比较功能, 平均值功能, Low-C筛选功能, 振动功能, 控制用输出输入 (EXT. I/O), RS-232C接口(标配), GP-IB接口(3504-40除外)
电源 AC 100/120/220/240V ±10%(可选择), 50/60Hz, 樶大110VA
体积及重量 260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg
附件 电源线×1,预备电源保险丝×1,使用说明书×1

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