日本日置C测试仪 3504-40/50/60产品详细信息
日本日置C测试仪 3504-40/50/60概述
封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等
■ BIN功能
C测量根据测量值樶多分类为14个等级※1,易于进行分拣等。 ※1 3506,3505樶多为13个等级。3504-40无BIN功能。
■ 比较器功能
第1参数(C)、第2参数(D)可各自设置上下限值。判定结果可进行蜂鸣、LED显示以及外部输出,设定值始终显示。
■ 存储功能
测量数据可保存在主机。可通过GP-IB,RS-232C读出。 3506-10 ………………………………..1,000个 3504-60, 3504-50, 3504-40 ……32,000个
■ 只需选择的简单操作&LED显示
只需从面板标记项目中进行选择,操作简单。设定好的测量条件会点亮,能够一目了然把握设定条件。
■ 触发同步输出功能
施加触发后输出测量信号,仅在测量时将信号施加到被测物上。因为是在接触被测物时流过大电流,因此能够减少接点的损耗。
■可存储99※2组测量条件
樶多可保存99组测量条件,可迅速对应在重复测量较多的产线上切换被测物的情况。可利用EXT I/O读出任意测量条件。 ※2 3506-10樶多为70组。
■标配接触检查功能
可检测出测量过程中的接触错误。可另外管理有过接触错误的样品,对提高成品率做出贡献。
日本日置C测试仪 3504-40/50/60特点
★ 高速测量2ms
★ 能根据C 和D (损耗系数*2)的测量值,进行被测物合格与否的判断
★ 对应测试线,比较器功能/触发输出功能
★ 3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试
★ 3504-40记录工具,实现高速/低成本的测试
★ 查出全机测量中的接触错误,提高成品率
日本日置C测试仪 3504-40/50/60选型指南
测量参数
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Cs,Cp(电容),D(损耗系数tanδ)
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测量范围
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C:0.9400pF~20.0000mF D:0.00001~1.99000
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基本精度
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(代表值)C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016 ※测定精度= 基本精度× B× C× D× E, B~E为各系数
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测量频率
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120Hz, 1kHz
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测量信号电平
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恒压模式: 100mV (只用于3504-60), 500 mV, 1 V 测量范围: CV 100mV:~ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ~ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz) CV 500mV: ~ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ~ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz) CV 1V: ~ 70μF 量程 (测量频率 1kHz), ~ 700μF 量程 (测量频率 120Hz)
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输出电阻
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5Ω(CV测量范围以外的开路端子电压模式时)
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显示
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发光二级管 (6位表示,满量程计算器根据量程而定)
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测量时间
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典型值: 2.0 ms ( 1 kHz, FAST) ※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同
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功能
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BIN分类测量 (3504-40除外), 触发同步输出, 测量条件记忆, 测量值的比较功能, 平均值功能, Low-C筛选功能, 振动功能, 控制用输出输入 (EXT. I/O), RS-232C接口(标配), GP-IB接口(3504-40除外)
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电源
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AC 100/120/220/240V ±10%(可选择), 50/60Hz, 樶大110VA
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体积及重量
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260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg
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附件
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电源线×1,预备电源保险丝×1,使用说明书×1
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