日本日置C测试仪 3506-10产品详细信息
日本日置C测试仪 3506-10概述
封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等
■ BIN功能
C测量根据测量值樶多分类为14个等级※1，易于进行分拣等。 ※1 3506,3505樶多为13个等级。3504-40无BIN功能。
■ 比较器功能
第1参数(C)、第2参数(D)可各自设置上下限值。判定结果可进行蜂鸣、LED显示以及外部输出，设定值始终显示。
■ 存储功能
测量数据可保存在主机。可通过GP-IB，RS-232C读出。 3506-10 ………………………………..1,000个 3504-60, 3504-50, 3504-40 ……32,000个
■ 只需选择的简单操作&LED显示
只需从面板标记项目中进行选择，操作简单。设定好的测量条件会点亮，能够一目了然把握设定条件。
■ 触发同步输出功能
施加触发后输出测量信号，仅在测量时将信号施加到被测物上。因为是在接触被测物时流过大电流，因此能够减少接点的损耗。
■可存储99※2组测量条件
樶多可保存99组测量条件，可迅速对应在重复测量较多的产线上切换被测物的情况。可利用EXT I/O读出任意测量条件。 ※2 3506-10樶多为70组。
■标配接触检查功能
可检测出测量过程中的接触错误。可另外管理有过接触错误的样品，对提高成品率做出贡献。
日本日置C测试仪 3506-10特点
★ 模拟测量时间0.6ms(1MHz)的高速测量
★ 提高了抗干扰性，在产线的上也能实现高反复精度
★ 1kHz、1MHz测量下，低电容的贴片时可稳定测量
★ 根据BIN的测定区分容量
日本日置C测试仪 3506-10选型指南
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测量参数
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C(电容),D(损耗系数tanδ), Q (1/tan δ)
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测量范围
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C:0.001fF～15.0000μF D: 0.00001 ～ 1.99999 Q:0.0 ～ 19999.9
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基本精度
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(代表值)C: ±0.14% rdg. D: ±0.0013
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测量频率
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1kHz, 1MHz
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测量信号电平
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500mV, 1V rms
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输出电阻
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1Ω (在1kHz 时2.2 μF 以上量程), 20Ω(除上述以外的量程)
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显示
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LED(6位显示,满量程由点数有效距离来决定)
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测量时间
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1.5ms：1MHz， 2.0 ms：1kHz
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功能
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BIN分类测量, 触发同步输出, 测量条件记忆, 测量值比较功能, 平均值功能, Low-C筛选功能, 振动功能, 电流检测监视功能, 输出电压值监视功能, 控制用输入输出 (EXT. I/O), RS-232C接口, GP-IB接口
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电源
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AC 100/120/220/240V ±10%(可选择), 50/60Hz, 樶大40VA
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体积及重量
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260W × 100H × 298Dmm, 4.8kg
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附件
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电源线× 1, 电源备用保险丝× 1，使用说明书× 1
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