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产品资料
美国稳科磁性元件分析仪
型号:WK3260B
品牌:Wayne Kerr(美国)
库存:0
详情介绍:

 美国稳科磁性元件分析仪WK3260B SERIES产品描述                                                                                                             

•  频率范围 (20Hz - 3MHz)

•  0.1% 基本量测**度

•  DC Bias(直流偏压) *高可到125A(Option)

•  内建1Amp DC Bias

•  多频率自动测试模式

•  多点DC Bias扫频功能

•  可直接画出加上Bias时各参数之曲线图.具扫频功能

•  可接Mesco view, Factory view软件

•  涵盖各式测量参数 - 包含 Z(阻抗), L(电感), C(电容), Rac(交流电阻), Phase(相位), Q(质量因素), D(损耗因素), Rdc(直流电阻) 及 圈数比

可透过IEEE488连线控制


 美国稳科磁性元件分析仪WK3260B SERIES产品参数                                                                                                              

量测参数
L,Z,Rdc,C,Q,D,Rac,Angle
频率范围
20 Hz to 3 MHz Option
频率波段
>1000
量测电压/电流
1 mV to 10 V 
50 uA to 200 mA
内建式直流偏压电流
1 mA to 1 A
绝缘测试(选购)
100 V, 200 V, 500 V
量测速度
4 off (25/sec max)
量测范围
R 0.01 mOhm to > 2 GOhms 
L 0.1 nH to >1000H 
C 5 fF to > 1 F
基本量测速度
L/Rac/Z/Cp ±0.25% 
Q ±0.25 (Q+1/Q)% 
D ±.0025 (1+ D2) 
Turns ratio ±0.25% 
Rdc ±0.5%
使用电源
230 V AC ±10% 
115 V AC ±10%
频率
50 to 400Hz
耗电量
400VA maximum
显示屏
高亮度 LCD
测试接点
BNC 接头 X 8
测试线
2线式 or 4线式(Kelvin)

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