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产品列表
日本日置HIOKI 直流电压计DM7276/7275
日本日置HIOKI 直流电压计DM7276/7275搭载了考虑到电压趋势、统计显示等必须功能和与各测量画面联动的比较器、BIN功能等各种使用环境的接口。而且,可以进行适合生产现场的自定义显示,可以放心的作为现场适应能力强的标准源来使用。
日本日置HIOKI 电阻计RM3542
日本日置HIOKI 电阻计RM3542可用于集成电路片电感器和EMC对应零件的低能耗电阻测量 ,可用于制造工程中手动的取样检查。
日本日置电阻计RM3543
日本日置HIOKI 电阻计RM3543能够以±0.16%的高精度、0.01μΩ的高分辨率※测量0.1mΩ低分流电阻等的直流电阻。(※将条件设置为10mΩ量程,测量速度SLOW,平均16次时)
日本日置HIOKI 微电阻计RM3544
日本日置HIOKI 微电阻计RM3544是使用4端子法来测量低电阻。根据铜线等温度系数,能够在室温情况下将变化了的实测值换算成标准温度的电阻值,适用于进行绕组线的电阻测量。
日本日置无线数据记录仪LR8410-30
无线轻松采集多点数据,无线数据记录仪
马达/谐波测试分析仪
马达/谐波测试分析仪3194 *多可达6个输入通道,用于分析逆变器马达和高次谐波! •3194高次谐波分析*多达3000次 •适合用于分析和评估逆变器马达的情况以及家用电器的谐波。 •另外,若安装选件9603-01单元,仪器可直接测量在评估逆变器马达情况时必须测量的扭矩和转速。
日置电池测试仪
日置电池测试仪3555 立即测定电池劣化情况:小型二次电池用 •通过对电池的内电阻和内电压的测量 •以合格(pass),警告(warning)及不合格(fail)三段指示 •使本系列产品能够立即得到电池状态的结果
日置微电阻计
日置微电阻计3540 提供可选手动测试或系统应用测试 •4端子方法测量mΩ电阻(快速100ms响应) •比较器功能*多存储7组表格 •温度补偿功能,测量温度并根据铜来计算20℃以下的对应值。
日置微电阻计
日置微电阻计3541 宽量程、高分辨率、适用于系统测试的电阻计 •广范围测量 *低0.1μΩ(20.00mΩ),*高110MΩ •快速采样,*快可达0.6ms (*根据设定条件的不同,会有差异) •补正偏置电压,用9451(Pt)/温度探头进行温度补正功能 •运用4端子测量技术,测试线接触电阻可忽略不计 •具备统计、演算功能。若再另配选件的9670,可达到印字功能。
日置微电阻计 RM 3542
日置微电阻计RM3542 •实现了自动化系统中所要求的速度和高精度 •双重检查功能保证准确接触,实现可靠性测试 •可用于集成电路片电感器和EMC对应零件的低能耗电阻测量 •可用于制造工程中手动的取样检查
日置微电阻计
日置微电阻计RM3543 用于测试超低或低并联电阻的电阻计 •自动化系统中±0.16%的精度和0.01μΩ分辨率 •优越的反复测量精度 •提供高性能的接触检查功能,比较器功能和数据输出功能 •直观的用户接口,高度抗干扰性,樶实用与自动一体化
日置电容测试仪
日置电容测试仪3506 对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试 •反复测量精度更高,樶适合生产线 •校正维修功能,减低由环境的温度变化影响 •测量导线的过长引起的阻抗变化,阻抗补正功能 •比测仪的设定值和测定值的同步显示 •2ms的高速测量;1kHz,1MHz 测量 •根据BIN的测定区分容量 •比测仪和触发器同步输出功能
日置电容测试仪
日置电容测试仪3505 对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试 •反复测量精度更高,樶适合生产线 •校正维修功能,减低由环境的温度变化影响 •测量导线的过长引起的阻抗变化,阻抗补正功能 •比测仪的设定值和测定值的同步显示 •2ms的高速测量;1kHz,1MHz 测量 •根据BIN的测定区分容量 •比测仪和触发器同步输出功能
日置LCR测试仪
日置LCR测试仪3532-50 搭配宽幅测试频率的阻抗测试仪 测试频率可在42Hz~5MHz宽广频率量程内以4位**度自由调整 可很容易地测试被测物在高频量程内的特性。操作非常简便,改变设置时通过触模屏幕,所需的设定选项会顺序排列显示出来
日置LCR测试仪
日置LCR测试仪3535 高速LCR仪,采样率可高至120MHz 100kHz~120MHz的宽频带 高速LCR测试(6ms/采样) 拆卸式前置放大器可选择 为比较标准元件提供补偿的“负载补偿功能
电池测试仪
日本日置电池测试仪BT3563 可直接测量高达300V的电压(BT3563) 用于检查高电压电池组/电池单元的生产线 大型(低电阻)电池单元检查 多种接口可用于高速自动化产线中
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