日本日立扫描探针显微镜控制器

日本日立扫描探针显微镜控制器概述

AFM5000Ⅱ工作站采用全新的图标用户界面，标准配备参数自动设置功能(RealTune® II)，即使是刚刚接触SPM的初学者或者遇到全新的样品时，也能快速获得准确的测量数据。

• 图标说明

• * RealTune是日立高新技术公司在日本的注册商标

日本日立扫描探针显微镜控制器特点
1. RealTune® II　樶新的参数自动设置功能

• 独有的参数自动设置功能！
  RealTune® II可预测并调整悬臂的振动振幅、动作频率等主要参数，可以根据样品表面的形貌、扫描范围、扫描速度以及使用的悬臂的状况，高效率、高精度地调整成樶合适的测量条件。
• 通过新增加的参数自动设置功能（RealTune® II），可实现一键（One Click）测量。
  原来需要专业操作才能完成的测量，现在即便是新手也可以轻松胜任。
• 也可用于高难度样品。

【实例1】纤维状的碳纳米管结构体（壁虎胶带）
【样品提供：日东电工股份公司】

以往的方法这些样品需要对参数进行精细的调整，操作难度很高，并且柔软的纤维易变形产生皱痕。

新处理方法

自动设置成樶合适的条件，可在复杂的纤维结构不变形的情况下进行精准测量。

【实例2】用于有机薄膜晶体管的多结晶薄膜（并五苯多结晶薄膜）
【样品提供：神户大学北村研究室】

以往的方法这种样品，表面容易损坏，易产生皱痕、台阶的轮廓也不明显。

新处理方法

自动设置成樶合适的条件，稳定地测量分子级别上的台阶结构。

2. 全新的图标用户界面（Graphical Use Interface）
简单的菜单设置

• 明了易懂的图标、严格筛选的图片信息，无论是初学者还是有经验的操作员，都能够轻松掌控！
• 可通过选项卡在测量及分析之间相互切换，画面简洁明了。

3. 3D覆盖功能

能够将样品形貌及物理特性叠加显示，并能构画出3D画面，可以通过视觉感受表示样品的物理特性。

4. 凹凸分析、剖面轮廓分析功能

5. 小型化设计

轻便的小型化外形，适合各种场地摆放。
220 mm(W)×500 mm(D)×385 mm(H)、約15 kg

能够将样品形貌及物理特性叠加显示，并能构画出3D画面，可以通过视觉感受表示样品的物理特性。