半导体测试电源

半导体测试电源是为测试半导体器件在各种环境条件下能完全实现设计规格书所规定的功能及性能指标设计的电源。可进行开路/短路测试、输出驱动电流测试、漏电电源测试、转换电平测试、立保持时间测试，功能速度测试、建立保持时间测试，功能速度测试、功能速度测试等等。台湾洛仪半导体测试电源系列具有动态响应精却可控、电压和电流变化斜率高且可设定、稳定性高、易于集成和操作、低纹波和噪声、灵活的功率调整输出等特点，为测试产品提供真实有效的依据与保证。适用于二极管、LED、功率半导体元件测试或汽车电子、铅酸电池或锂离子电池测试等领域。

半导体测试电源特点：
动态响应精却可控；
电压和电流变化斜率高且可设定；
灵活的功率调整输出；
采用FPGA数字化控制技术，整体模块化设计，稳定性更好，可靠性更高；
采用新型线路设计，低纹波、低噪声、高稳定性、无高频干扰信号；
使用先进的直接数字合成（DDS）波形产生技术，频率稳定性高，连续性好；
按键加飞梭编码器调节输出参数，可以做到微调与快速输入调节，操作更便捷；
多种操作模式编程输出，可实现模拟各种复杂的用电环境；
各种保护功能（OVP，OCP，OPP，OTP及编程保护）；
支持上位机操作功能，配有上位机软件及外部通讯接口；
优化性系统散热，可使设备长时间运行并保证数据的稳定性；
大屏幕液晶显示器、可显示参数、状态及报警等全mian的数据；
大功率、快响应、数字化；
数字控制器+PLC+工业PC；
模块化、单元化组建结构。

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